CdS和ZnO光电性能优异，被认为在光电探测器等领域具有广阔的应用前景。CdS一维材料存在低量子效率、低响应速度等问题，ZnO纳米材料也存在响应速度低、光电流稳定性差等问题。本文报道了一个有趣的树枝CdS/ZnO与普通材料相比，异质结纳米材料CdS纳米带大大提高了光电响应性能。结合原位透射电子显微镜光学-光电测量系统（ZepTools Technology Co.,Ltd.），研究人员揭示了材料结构特性与光电响应性能之间的联系。相关研究成果发表在《Nanoscale》上。

图1：（a）CdS纳米带与CdS/ZnO枝状异质结XRD峰对比。（b）低倍数SEM下观测到的CdS/ZnO树枝异质结。（c）（d）分别对应SEM和TEM下观测到的CdS/ZnO树枝异质结。

图2：（a）透射电子显微镜光学原位-光电测量系统应用示意图。（b）透射电子显微镜光学原位-光电测量样品杆头部实拍图。

实验样品粘在金针上，放置在原样品杆的头部。金针的另一端是一个三维光电探针。光电探针由钨金属扫描探针和双向光纤组成。通过操作光电探针，探针可以靠近样品并形成电路，光信号也可以通过光纤照射到样品的指定位置。光纤外部为405 nm激光后，可在TEM405 nm光信号，同时原位测量光电响应性能。

图3：CdS/ZnO树枝异质结TEM下结构表征。

图4：（a）（b）分别对应CdS纳米带和CdS/ZnO异质结放置在原位光学中-在光纤样品杆中TEM图像。（c）（d）分别对应CdS纳米带和CdS/ZnO异质结I-V曲线开关特性。（e）（f）分别对应CdS纳米带和CdS/ZnO周期性光信号异质结对的响应特性。