介绍各种电子显微镜的基本工作原理。TEM/SEM/STM/AFM。

透射电子显微镜 TEM（Tran ** ission Electron Microscope）

电子束通过样品成像。与普通生物透射显微镜更基本的工作机制相同，德布罗意波长较短，仅利用电子作为粒子来实现更精细的分辨率。

扫描电子显微镜 SEM （Scanning Electron Microscope）

显微镜只能观察样本表面，电子照射到样本表面，反射成像。

扫描隧道显微镜 STM（Scanning Tunneling Microscope）

通过一个非常时，电子可以通过量子隧道距离足够近时，电子可以通过量子隧道通过探针与样品之间的间隙形成电流。距离越近，电流越大。在扫描过程中，上下移动探针以恒定电流，并记录探针的上下移动。由于工作原理的限制，显微镜只能测量导电样品的表面。

显微镜 原子力AFM （Atomic Force Microscope）

又称扫描显微镜（Scanning Force Microscope）。其原理是通过弹性臂/箔（下图6）上的探针接近样品表面。在扫描和移动过程中，表面原子的排列将反映在弹性臂/箔的变形上，然后测量其变形。上述隧道效应可用于测量变形，如下图所示。激光也可用于测量。这种显微镜不应被视为电子显微镜。该显微镜可用于测量非导体表面原子结构。